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加速寿命模拟测试——主要考验产品电气可靠性
主要用于评估芯片的寿命和电路可靠性，可以用2种方式进行测试：DFT测试模式和EVA板测试模式。
早期寿命失效率，需要的样本量比较大
非易失性存储器耐久实验，仅针对包含该性能的芯片才需要验证
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