书标签：TDD

Kent Beck / 2004-3-1 / 中国电力出版社 / 28.0 / 平装 / 孙平平等

Beck / [美]Kent / 2003-8-1 / 中国电力出版社 / 32.0 / 平装

（美）兰格（Jeff,L.） / 2006-9-1 / 电子工业出版社 / 测试驱动开发的编程技术 / 69.0 / 平装 / 孙勇 / 涂波

Kent Beck / 2002-11-08 / Addison-Wesley Professional / By Example (Addison-Wesley Signature Series) / USD 39.99 / Paperback

（美）艾斯特尔斯（Astels,D.） / 2004-9-1 / 中国电力出版社 / 58.0 / 平装 / 崔凯

（美）托马斯（Thomas,D） / 2005-1-1 / 电子工业出版社 / 25.0 / 平装 / 陶文 / 陈伟柱

（美）马丁 / 2003-7-1 / 中国电力出版社 / 59.0 / 平装

孙方 / （美）贝克 / 2007-11-1 / 人民邮电出版社 / 49.0 / 平装 / 233

（美）艾斯特尔斯 / 2004-5-1 / 中国电力出版社 / 58.0 / 平装

Michael Feathers / 2004-10-02 / Prentice Hall PTR / USD 59.99 / Paperback

Paul Duvall / Steve Matyas / Andrew Glover / 2007-07-09 / Addison-Wesley Professional / Improving Software Quality and Reducing Risk / USD 49.99 / Paperback

（加）雷恩斯伯格 / （加）斯特灵 / 2006-9-1 / 电子工业出版社 / 69.0 / 平装 / 李笑 / 陈浩 / 王耀伟

李维 / 2005-8-1 / 电子工业出版社 / 49.0 / 平装

王晓毅 / 2008-1-1 / 清华大学出版社 / 49.0 / 平装

（美）理查德森 / 2007-4-1 / 电子工业出版社 / 68.0 / 平装 / 王海龙 / 李琳骁

James W. Newkirk / Alexei A. Vorontsov / 2004-04-14 / Microsoft Press / USD 39.99 / Paperback

Jimmy Nilsson / 2006-05-08 / Addison-Wesley Professional / With Examples in C# and .NET / USD 49.99 / Hardcover

Scott Raymond / 2007-01-03 / O'Reilly Media, Inc. / USD 39.99 / Paperback

Rick Mugridge / Ward Cunningham / 2005-06-29 / Prentice Hall PTR / Framework for Integrated Tests (Robert C. Martin) / USD 44.99 / Paperback

(美)梅尔斯 / 2006-01-01 / 机械工业出版社 / 22.0 / 平装 / 陈杰 / 王峰